Ce projet européen (NanoWires) a pour but de promouvoir le développement de dispositifs de récupération d’énergie en facilitant le contrôle de leurs performances, avant et après production. Le projet vise à développer des outils et méthodes traçables pour la caractérisation de dispositifs de récupération d'énergie constitués de nanofils.

Objectifs du JRP

Caractérisation nanodimensionnelle à haut débit des capteurs d'énergie à base de nanofils (NW) (> 108 nanofils/cm2) incluant les mesures de formes 3D (cylindrique, prismatique, pyramidale) et de rugosité des parois latérales ;

Caractérisation nanoélectrique à haut débit de cellules solaires à base de nanofils semi-conducteurs (à l’aide d’un AFM à pointe conductrice , d’un SMM et d’une sonde MEMS) ;

Caractérisation nanomécanique à haut débit de dispositifs NW et des récupérateurs d'énergie électromécaniques prenant en compte la flexion et la compression locales des nanofils ;

Caractérisation thermoélectrique, fondée sur l'imagerie thermique rapide, des nanofils (conductivité thermique inférieure à 10 W/(m·K) ;

Faciliter l'adoption de la technologie et de l'infrastructure de mesure développées dans le cadre du projet par la chaîne d'approvisionnement des mesures, les organismes d'élaboration de normes (IEC TC 113 et IEC TC 82) et les utilisateurs finaux (fabricants de cellules solaires et de générateurs d'énergie).

Résumé et résultats

La collecte d'énergie à partir de sources renouvelables (solaire, chaleur et mouvement) est une solution de premier plan pour créer de petites quantités d'énergie électrique dans des zones difficiles d'accès, et les dispositifs de récupération d'énergie apparaissent comme essentiels dans la problématique mondiale d’une meilleure gestion de l’énergie.

Les systèmes de récupération d'énergie à base de nanofils (NW) sont déjà très performants mais, en raison de la dimension nanométrique (nm) des fils et de la grande taille (mètre carré) des dispositifs, ils restent difficiles à tester et à caractériser. Les propriétés globales des dispositifs sont mesurables mais il reste impossible de faire un lien entre les caractéristiques et performances de chaque nanofils et celles du dispositif dans son ensemble. Ce projet vise donc à développer une métrologie fiable et rapide pour qualifier et contrôler les systèmes de récupération d'énergie constitués de nanofils (semiconducteurs).

Le projet a débuté en septembre 2020 pour une durée de 3 années. Le programme de travail est réparti entre 17 partenaires, dont 7 laboratoires d’EURAMET et 10 laboratoires externes. Le projet est structuré en 4 lots de travail technique et 2 lots de management et de diffusion des connaissances :

WP1 - Caractérisation nanodimensionnelle des nanofils (NW),
WP2 - Caractérisation nanoélectrique de cellules solaires à base de nanofils,
WP3 - Méthodes de mesure nanomécanique,
WP4 - Imagerie thermique des surfaces de dispositifs à base de nanofils,
WP5 - Création d’impact,
WP6 - Management et coordination.

Le LNE participe à tous les lots de travail technique et coordonne le lot relatif à la caractérisation traçable au SI des propriétés électriques des nanofils (semi-conducteurs) constitutifs de cellules solaires. Trois équipes du LNE sont engagées dans ce projet : métrologie électrique, métrologie nano-dimensionnelle et métrologie des propriétés thermiques des matériaux.

Concernant la métrologie électrique, ce JRP complète les travaux du LNE entrepris en métrologie électrique à l'échelle nanométrique menés notamment dans le cadre du projet MetroSMM. 

Pour obtenir plus d'informations sur le projet "JRP NanoWires" : site internet du JRP https://www.ptb.de/empir2020/nanowires/

Impacts attendus

  • Industrialisation : Possibilité de mesurer rapidement et simultanément plusieurs caractéristiques des dispositifs fabriqués (dimensions géométriques, propriétés électriques, thermiques et mécaniques des nanomatériaux) donnant accès au contrôle qualité de la performance des dispositifs de récupération d’énergie ; La métrologie à haut débit appliquée au contrôle de la qualité des dispositifs innovants de collecte et de stockage de l'énergie améliorera considérablement la compétitivité des industries manufacturières européennes des semi-conducteurs et de l'énergie.
  • Connaissances scientifiques : Accès aux principales spécifications géométriques des NW ayant des rapports de proportion géométrique élevés, contribuant à l'évolution des nanomatériaux et de la nanométrologie ;
  • Normalisation : Transfert des résultats métrologiques sur les cellules solaires à ondes naturelles vers les comités de normalisation (comité technique 113 de la CEI "Nanotechnologie pour les produits et systèmes électrotechniques" et comité technique 82 de la CEI "Systèmes d'énergie solaire photovoltaïque") pour favoriser la création de nouvelles normes ; possibilité de créer de nouvelles normes de mesure par la diffusion de guides de bonnes pratiques aux comités techniques CEI TC 47 « Dispositifs à semi-conducteurs », au comité technique ISO TC 164 « Essais mécaniques des métaux » et au comité technique allemand VDI/VDE-GMA 3.41 « Technologie de mesure des surfaces dans le domaine des micro et nanomètres » ;
  • Société/environnement : Possibilité d’effectuer des contrôles de la qualité des dispositifs nouvellement développés pour la collecte ou le stockage d'énergie et, par conséquent, promotion et accélération du développement de ces nouvelles nanotechnologies pour l'industrie des énergies renouvelables ; participation à l’implication de l'Europe pour limiter le changement climatique induit par les activités humaines.

Partenaires & Collaborations

Le projet européen (JRP) est coordonné par le PTB (Allemagne) et réunit 17 partenaires dont 6 français :

  • PTB et Technische Universitaet Braunschweig (TUBS), Allemagne
  • CMI, République tchèque
  • DFM, Danemark
  • GUM et Politechnika Wrocławska (PWR), Pologne
  • INRIM, Italie
  • LNE, CNRS-UPS/C2N et GEEPS, INL/ECL, LPICM et Concept Scientifique Instruments (CSI), France
  • VSL, Pays-Bas
  • Aalto, Finlande
  • Electrosciences Limited (ELECTRO), Royaume-Uni
  • GETec Microscopy (GET), Autriche
  • College of the Holy and Undivided Trinity of Queen Elizabeth near Dublin (TCD), Irlande
  • Universidad Autonoma de Barcelona (UAB), Espagne

Les référentiels géodésiques constituent l’épine dorsale de tous les services de géo-référencement, ainsi que des observations les plus critiques de la Terre, telles que la hauteur du niveau de la mer et la surveillance des volcans ou des tremblements de terre. Celles-ci nécessitent une incertitude de 1 mm du repère géodésique de référence, ce qui est nettement inférieur à la capacité actuelle de 5 à 8 mm.

Objectif

Améliorer la chaîne complexe de traçabilité en métrologie de longueurs géodésiques

Résumé et résultats

Les repères de référence sont dérivés d'observations spatio-géodésiques globales pour lesquelles la chaîne de traçabilité est très complexe. La métrologie dimensionnelle moderne à grande échelle permet de s’attaquer à deux des points les plus critiques :

  • les références de haute précision liées à la Terre pour la vérification de l’interférométrie en très longue base (VLBI), la télémétrie laser par satellite (SLR) ou les systèmes de navigation globale par satellite (GNSS),
  • le lien géométrique des observations géodésiques spatiales co-localisées.

Cela nécessite une instrumentation de terrain innovante pour des mesures extérieures étendues ainsi qu'une amélioration des stratégies de mesure et d'analyse.

L'ITRF (International Terrestrial Reference Frame) est une combinaison de plusieurs services de l'Association internationale de géodésie (IAG), utilisant des réseaux mondiaux d'observatoires. En pratique, l'ITRF définit l'échelle des mesures globales, assure la traçabilité jusqu'à la définition SI du mètre et, par conséquent, la comparabilité à long terme des données. Une résolution récente de l'Assemblée générale des Nations Unies (AG) a souligné l‘importance sociétale de l'ITRF. De nombreuses applications de haut niveau nécessitent une amélioration substantielle de sa précision.

Le projet avait pour objectif de développer de nouvelles approches et technologies de mesure pour la métrologie dimensionnelle et pour la prise en compte spécifique de la température de l’air et des gradients de température pour ces mesures.

Le LCM a développé un télémètre à modulation à deux longueurs d’onde, et des sondes de température basées sur la thermométrie acoustique ou spectroscopique développées par ailleurs lui ont été associées. D’autres techniques basées sur l'interférométrie absolue et la compensation d’indice par dispersion ont également été développées.
Les incertitudes ont été évaluées par un bilan d’incertitude et validées par deux campagnes de mesures : une comparaison avec un banc interférométrique jusqu’à 100 m et une comparaison par télémétrie satellite jusqu’à 6,4 km. La compensation d’indice de réfraction de l’air a été démontrée sur plusieurs jours.

Pour promouvoir le transfert de technologie, des collaborations étroites avec les fabricants européens de dispositifs de précision géodésique ont été établies.

Impacts scientifiques et industriels

Les nouvelles méthodes pour établir des références à faible incertitude traçables au SI pour la vérification du SLR (Satellite Laser Ranging) doivent soutenir le développement de la prochaine génération de stations SLR à deux longueurs d’onde, le SLR étant primordial pour déterminer l'origine de l'ITRF.

Les fabricants d'instruments d'arpentage ainsi que les géomètres de haut niveau, les grandes entreprises d'arpentage et les organismes européens de métrologie légale bénéficieront du deuxième grand résultat du projet : le nouveau réseau européen de référence pour les grandes distances (mesures de 5 km).

Partenaires

FGI-GG (Finlande)

GUM (Pologne)

INRIM (Italie)

MIKES (Finlande)

NPL (Royaume-Uni)

PTB (Allemagne)

RISE (Suède)

Bundesamt für Kartographie und Geodasie (Allemagne)

CNRS (France)
Frankfurt University of Applied Sciences (Allemagne)

Institut national de l’information géographique et forestière (France)

National Scientific Centre Institute of Metrology (Ukraine)

Observatoire de la Côte d'Azur (France)

Politechnika Warszawska (Pologne)

Universitat Politècnica de València (Espagne)

Résumé de la thèse

Les formes asphériques et les surfaces complexes sont une classe très avancée d'éléments optiques. Leur application a considérablement augmenté au cours des dernières années dans les systèmes d'imagerie, l'astronomie, la lithographie, etc. La métrologie de ces pièces est très difficile, en raison de la grande gamme dynamique d'information acquise et la traçabilité à l'unité SI mètre. Elle devrait faire usage de la norme infinie; (Méthode de zone minimum ou la méthode Min-Max) pour calculer l'enveloppe entourant les points dans le jeu de données en réduisant au minimum la différence entre l'écart maximum et l'écart minimal entre la surface et l'ensemble de données. Cette méthode a une grande complexité en fonction du nombre de points, enplus, les algorithmes impliqués sont non-déterministes. Bien que cette méthode fonctionne pour des géométries simples (lignes, plans, cercles, cylindres, cônes et sphères), elle est encore un défi majeur lorsqu' utilisée pour des géométries complexes (asphérique et surfaces complexes). Par conséquent, l'objectif de la thèse est le développement des algorithmes d'ajustement Min-Max pour les deux surfaces asphériques et complexes, afin de fournir des algorithmes de référence robustes pour la grande communauté impliquée dans ce domaine. Les algorithmes de référence à développer devraient être évalués et validés sur plusieurs données de référence (Softgauges) qui seront générées par la suite.

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Mots clés

Métrologie dimensionnelle, Algorithmes, Surfaces complexes, Traitement de nuages de points, Fusion de données, Optimisation, Longueur, Mesure, Algorithmes, Optimisation mathématique, Représentation des surfaces

Résumé de la thèse

À l'heure où les nanotechnologies sont en plein essor, la précision des mesures réalisées à l'échelle nanométrique devient un défi essentiel pour améliorer les performances et la qualité des produits intégrant des nano. Pour répondre aux besoins sous-jacents en nanométrologie dimensionnelle, le Laboratoire National de métrologie et d'Essais (LNE) a conçu intégralement un Microscope à Force Atomique métrologique (mAFM). Son objectif principal est d'assurer la traçabilité au mètre défini par le Système International d'unités (SI) pour les mesures à l'échelle nanométrique. Pour cela, le mAFM utilise quatre interféromètres différentiels qui mesurent en temps réel le déplacement relatif de la pointe par rapport à l'échantillon. Cet instrument de référence est destiné à l'étalonnage d'étalons de transfert couramment utilisés en microscopie à champ proche (SPM) et en microscopie électronique à balayage (SEM). Lors de ce processus, une incertitude de mesure est évaluée. Elle détermine un niveau de confiance de l'étalonnage réalisé par le mAFM. Cette incertitude est généralement évaluée grâce à des mesures expérimentales permettant de déterminer l'impact de certaines sources d'erreur qui dégradent les mesures à l'échelle du nanomètre. Pour d'autres sources d'erreur, leur évaluation reste complexe ou expérimentalement impossible. Pour surmonter cette difficulté, le travail de thèse a consisté à mettre en place un modèle numérique de l'instrument nommé « AFM virtuel ». Il permet de prévoir l'incertitude de mesure du mAFM du LNE en ciblant les sources critiques d'erreur grâce à l'utilisation d'outils statistiques tels que la Méthode de Monte Carlo (MCM), les plans de Morris et les indices de Sobol. Le modèle utilise essentiellement la programmation orientée objet afin de prendre en compte un maximum d'interactions parmi les 140 paramètres d'entrée, en intégrant des sources jusqu'ici négligées ou surestimées par manque d'informations.

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Résumé de la thèse

Le principe de la métrologie en cours d’usinage est d'obtenir des données de mesure directement dans le flot de production. Ce principe fait suite au besoin croissant des industriels de réaliser des mesures en ligne durant une opération ou entre deux opérations d'usinage, en employant le moyen de production pour mesurer la pièce usinée. La maîtrise des sources d’erreur de mesure, telles que les erreurs géométriques, est une condition sine qua non pour garantir la métrologie dimensionnelle traçable directement sur les machines-outils. Ces travaux portent sur la modélisation géométrique de machine-outil 5 axes, basée sur une paramétrisation normalisée des erreurs géométriques. Ce modèle est simulé et simplifié par l’utilisation d’une machine virtuelle développée comme un outil d’aide à la compréhension et à la visualisation des effets des erreurs géométriques sur l’erreur volumétrique. Un nouvel étalon matériel thermo-invariant a été développé : la Multi-Feature Bar. Raccordé à la définition internationale du mètre par un étalonnage et une intercomparaison européenne, il permet d’envisager des mesures traçables sur machine-outil dans un environnement hostile. L’identification de trois paramètres intrinsèques à cet étalon, couplée à une procédure de mesure, assure une identification complète et traçable des erreurs de mouvement d’axes linéaires. Suite à cela, l’identification des erreurs entre axes est quant à elle basée sur une analyse de combinaisons de paramètres suffisants pour caractériser au mieux l’erreur volumétrique. Une procédure d’identification des paramètres du modèle est proposée en minimisant la dérive temporelle de la structure ainsi que les effets des erreurs de mouvement précédemment identifiées. Une analyse de sensibilité des paramètres de réglages de la procédure de mesure ainsi que des effets de bruits permet de garantir la qualité de l’identification proposée.

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Résumé de la thèse

L’objectif de cette thèse est de contribuer à la détection de défauts dans des pièces réalisées par le procédé de fabrication additive de déposition métallique par laser (DML), en vue d’un contrôle in-situ. Le contrôle in-situ envisagé porte sur les derniers cordons déposés par le procédé (acier 316L et Inconel 718), pour lesquels des porosités et fissures peuvent apparaître (~ 100 µm). L’inspection est effectuée par méthode ultrasons-laser (UL), c’est-à-dire tout optique et non intrusive (régime thermoélastique). Le procédé DML engendre une microstructure dite à gros grains et des rugosités de surface qui rendent le contrôle ultrasonore plus délicat. En effet, ces caractéristiques microstructurales provoquent la diffusion des ondes élastiques dans le milieu. Ce travail de thèse participe donc à la compréhension de ces phénomènes et de leurs influences pour mieux détecter des défauts subsurfaciques dont les dimensions sont proches des longueurs d’ondes acoustiques. Ainsi, l’inspection en surface a été optimisée par la conception d’un montage optique, permettant de favoriser la génération de l’onde de Rayleigh, par une ligne source laser fine (~200 µm) et présentant des fronts raides. En conséquence, le contenu spectral de l’onde a été augmenté vers les hautes fréquences, c’est-à-dire jusqu’à 10 MHz. La longueur d’onde de Rayleigh (λR) a pu être ainsi diminuée à une valeur proche de celle des défauts recherchés, de l’ordre de 700 µm. Ensuite, les limites de ce dispositif ont été mises en évidence sur des pièces fabriquées par le procédé DML. Ces pièces comportent des défauts usinés, des entailles et des trous génératrice dont les dimensions sont inférieures à λR, leur surfaces est rugueuse (diffraction multiple de l’onde de Rayleigh). Puis, l’inspection de défauts réels subsurfaciques est étudiée. Ces défauts sont créés soit par une variation d’un des paramètres du procédé, le hatch (distance inter-cordon), ou encore par l’utilisation d’une poudre métallique de mauvaise qualité. En dégradant volontairement ces paramètres, les échantillons présentent alors des taux de porosités (Φ) pouvant s’étendre de 0,5% à 10%. Enfin, deux méthodes de corrélations ont été exploitées pour discriminer les taux de porosités : à travers l’étude du degré de ressemblance et l’Analyse en Composantes Principales (ACP). La première méthode, simple et rapide à mettre en œuvre, ne permet cependant pas de distinguer les taux de porosités. En revanche, l’ACP indique qu’il est possible de discriminer tous les défauts. Pour finir, des tests préliminaires ont été effectués afin de montrer qu’il est possible d’effectuer des mesures par méthode UL sur surface rugueuse, tout en conservant un bon rapport signal sur bruit, et ce sans moyenner les signaux, au cours d’un déplacement robotisé.

 

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Publications

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Noise sensitivity of an atomic velocity sensor - theoretical and experimental treatment”, The European Physical Journal D, 33, 2, mai 2005, 173.

CLADÉ P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “A promising method for the measurement of the local acceleration of gravity using Bloch oscillations of ultracold atoms in a vertical standing wave”, Europhysics Letters, 71, 5, septembre 2005, 730.

DU BURCK F., DAUSSY C., AMY-KLEIN A., GONCHAROV A. N., CHARDONNET C. et WALLERAND J.-P., “Frequency measuremnt of an Ar+ laser stabilized on narrow lines of molecular iodine at 501,7 nm”, IEEE transactions on instrumentationand measurement, 54, 2, avril 2005.

LAHOUSSE L., DAVID J., LELEU S., VAILLEAU G.-P. et DUCOURTIEUX S., « Application d’une nouvelle conception d’architecture à une machine de mesure de résolution nanométrique », Revue française de métrologie, 4, Vol. 2005-4, 35-43.

Communications

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JUNCAR P., « Métrologie Laser », Séminaire invité au Laboratoire de Photonique et de Nanostructure (LPN), Marcoussis, France, 9 mars 2005.

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GUELLATI-KHELIFA S., CLADE P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms: a tool for h/mRb measurement”, European Quantum Electronics (EQEC'05), Munich, Allemagne, 12-17 juin, 2005.

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GUELLATI-KHÉLIFA S., CLADÉ P., DE MIRANDES E., CADORET M., SCHWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Bloch oscillations of ultracold atoms : a tool  for h/mRb measurement”, 17th International Conference on laser spectroscopy (ICOLS'05), Ecosse, 19-24 juin 2005.

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Publications

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Communications

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., LAHOUSSE L., DAVID J., SALGADO J. et VAILLEAU G.P., « Activités du Laboratoire national de métrologie et d’essais en nanométrologie dimensionnelle », XVIe salon international des microtechniques, Besançon, France, 26-29 septembre 2006.

Publications

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SALGADO J., « Contrôle et étalonnage des cales étalons », Techniques de l'ingénieur, R 1245, à paraître.

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Communications

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., « Elaboration d’un laser rouge monomode réglablee en longueur d’onde, issu d’un doublage intracavité d’un laser Nd:YLF par un cristal de PPKTP », Journées scientifiques de l’ONERA, Clamart, France, 5-6 février 2007.

ZONDY J.-J. “Ternary Lithium Chalcogenides Compounds For Mid-Infrared Nonlinear Optics”, Journées scientifiques de l’ONERA, Clamart, France, 5-6 février 2007.

POYET B., DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F. et DAVID J., « Développement d’un AFM dont les mesures sont traçables au mètre-étalon », Forum microscopie en champ proche : 10ème forum des microscopies, Troyes, France, 26-29 mars 2007.

GUELLATI-KHELIFA S., « Manipulations d'atomes neutres par laser et Métrologie des constantes Fondamentales », 1er Congrès Nord-Sud de Physique, Conférence invitée, Société française de Physique et Université Mohamed, Faculté des sciences Oujda, Maroc, 9-13 avril 2007.

LAHOUSSE L., LELEU S. et DUCOURTIEUX S., « Conception et première évaluation d'une machine à mesurer XY à grandes courses et à incertitudes nanométriques », AIP primeca ; atelier inter-établissement de productique et pôle de ressources informatiques pour la mécanique, La Plagne, France, 18-20 avril 2007.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “Watt-level single-frequency tunable Nd:YLF/PPKTP red laser for silver atom cooling”, CLEO/QELS, Baltimore, Etats-Unis d’Amérique, 6-11 mai 2007.

DUCOURTIEUX S., LARSONNIER F., LAHOUSSE L. et VAILLEAU G.P., « X and Y calibration of the LNE ultra precision coordinate measuring machine », 7th EUSPEN International Conference, Brême, Allemagne, 20-24 mai 2007.

LAHOUSSE L. et DUCOURTIEUX S., “Z calibration of the LNE ultra precision coordinate measuring machine”, 7th EUSPEN International Conference, Brême, Allemagne, 20-24 mai 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHÉLIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Precise determination of h/MRb using Bloch oscillations and atomic interferometry: a mean to deduce a fine structure constant”, Atomic Clocks and Fundamental Constants ACFC 2007, Allemagne, 4-7 juin 2007.

SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “Watt-level single-frequency tunable Nd:YLF/PPKTP red laser”, CLEO/Europe-IQEC 2007, Munich, Allemagne, 17-22 juin 2007.

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S., LAHOUSSE L., LELEU S. et DAVID J. « Derniers résultats du programme de recherche et de développement du LNE en nanométrologie dimensionnelle », 13e Congrès international de métrologie, Lille, France, 18-21 juin 2007.

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CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWONB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Precise determination of h/mRb by using Bloch oscillation and atomic interferometry”, 8th International Conference on Laser Spectroscopy, Telluride, Colorado, Etats-Unis d’Amérique, 24-29 juin 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., « Détermination de la constante de structure fine à l'aide d'atomes froids », Congrès général de la Société Française de Physique, Grenoble, France, 9-13 juillet 2007.

CADORET M., DE MIRANDES E., CLADE P., GUELLATI-KHELIFA S., SCWOB C., NEZ F., JULIEN L. et BIRABEN F., “Accurate Quantum Metrology with cold atoms: determination of the fine structure constante”, QuAMP 2007, Conférence invitée, University College, Londres, Royaume-Uni, 10-13 septembre 2007.

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SARROUF R., SOUSA V., BADR T., XU G. et ZONDY J.-J., “All-solid state, single-frequency tunable Nd:YLF/ppKTP red laser source for silver and calcium atom spectroscopy”, 6th Ibero-American Conference on Optics(RIAO), 9th Latin-American Meeting on Optics, Lasers and Applications (OPTILAS), Campinas, Sao Paulo, Brésil, 21-26 octobre 2007.

Publications

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SALGADO J., « Contrôle et étalonnage des cales étalons », Techniques de l'Ingénieur, Mesures mécaniques et dimensionnelles, R 1 245v2, 2008.

SARROUF R., BADR T. et ZONDY J.J., “Intracavity second-harmonic generation of diode-pumped continuous-wave, single-frequency 1.3 μm Nd:YLiF4 lasers”, Journal of Optics A: Pure and Applied Optics, 10, 2008.

Communications

LAHOUSSE L., BORIPATKOSO S., LELEU S., DAVID J., GIBARU O. COOREVITS T. et DUCOURTIEUX S., “LNE Actvities in Nanometrology: flatness reference calibration algorithm”, 8th EUSPEN International Conference, Zurich, Suisse, 18-22 mai 2008.

LARSONNIER F., DUCOURTIEUX S. et DAVID J., “Investigation and results on a new out-of-squareness calibration method for an ultra high precision measuring machine”, 8th EUSPEN International Conference, Zurich, Suisse, 18-22 mai 2008.

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