Journée technique IA, digitalisation & métrologie

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Machine learning, deep learning, intelligence artificielle, digitalisation des données et des outils, autant de concepts qui s’installent dans notre quotidien tout en paraissant éloignés des activités propres à la métrologie. Et pourtant !
Cette journée, nouvelle et prospective, s’adresse à tous les métrologues qui s’intéressent à l’impact de l’intelligence artificielle et de la digitalisation sur nos métiers ainsi qu’à l’apport que la métrologie peut avoir pour aider au déploiement de ces nouveaux outils.

Programme et inscription

Journée technique organisée en partenariat avec le CFM

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